所有的新材料和半导体材料研究,都离不开电阻张量测试和相关参数分析。电阻张量参数分析仪将是该研究行业必不可少的测试装备。Tensormeter RTM1 电阻张量参数分析仪以其极高的精度和完备的功能,必将取代其他繁杂的模块和设备,成为新材料实验室不可缺少的宠儿。
应用场景
新材料研究一直是人类文明的主题之一。现今各种新型材料的研究百花齐放,薄膜材料、纳米材料、新能源材料、生物材料、超导材料、量子材料、绝缘材料和重费米材料等等。新材料研究必将改变人类的生活和生产。
二十一世纪以来,以氮化镓(GaN)和碳化硅(SiC)、氧化锌(ZnO)、金刚石为四大代表的第三代半导体材料开始初露头角。具有更宽的禁带宽度、更高的导热率、更高的抗辐射能力、更大的电子饱和漂移速率等特性。可以实现更好的电子浓度和运动控制,更适合于制作高温、高频、抗辐射及大功率电子器件,在光电子和微电子领域具有重要的应用价值。目前,市场火热的5G基站、新能源汽车和快充等都是第三代半导体的重要应用领域。